电位诱发衰减效应（PID,PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。 PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。 高温、高湿、高盐碱的沿海地区最高易发

光伏组件 虽然使用寿命可达25-30年,但随着使用年限增长,组件功率会衰减,会影响发电量。另外,系统效率对发电量的影响更为重要。 一、组件的衰减 光致衰减也称S-W效应。

本文针对光伏组件自然老化年度衰减问题, 搭建了第一个国家等级的户外老化实证基地, 首次在国内进行了第三方的全方位国主流光伏组件的户外老化实证测试.经过两个自然年的户外实证测试, 分析了不同光伏组件厂家的组件年度衰减率规律、不同辐照度对发电量的影

现状核实—实际太阳能电池组件的衰减率如何？. 太阳能产业中一个大力讨论的话题是晶体硅太阳能光伏（PV）组件的衰减率数据。衰减衰减率本来非常低,但测量中的不确定性非常高。另外,效果会延时,贴现率和污染率中同样大的不确定性会掩盖这些效果

光伏组件光致衰减的解决途径：硅片中氧元素和硼元素的含量决定了组件的光致衰减程度,因此硅片中硼氧越少往往硅片质量越好,组件光致衰减量越少。 从根本上来讲光伏组件的光致衰减要从硅片入手： 方法一：改进掺硼p性直拉单晶硅质量：在我国国内,掺硼直拉单晶硅是我国目前硅帮市场的主流产品。 在硅棒制作中要避免使用低质量的