光伏组件材料老化衰减主要可从电池片功率衰减及封装材料的性能退化两方面分析,而影响这两方面因素的主要原因是紫外线照射及湿热老化环境,而玻璃对紫外线和湿热环境的性能变化较小,因此组件功率的老化衰减研究主要可围绕EVA和背板两种材料的老化开展。 图4为某电站运营后材料老化的外观图。 EVA老化对光伏组件功率衰减影响把组

衰减机制可能使光伏组件的输出功率随着时间推移而逐渐降低,或者由于组件中单个太阳能电池的故障而导致功率总体降低。 太阳能电池衰减 组件性能逐渐下降的原因可能是：

在光伏电站中光伏组件长期应用中出现的及缓慢的衰减,此衰减与光伏 电池组件 内电池缓慢衰减有关,一般看来光伏组件的衰减速度与光伏组件生产工艺和组件封装材料,组件应用地环境成正相关。

光伏组件 虽然使用寿命可达25-30年,但随着使用年限增长,组件功率会衰减,会影响发电量。另外,系统效率对发电量的影响更为重要。 一、组件的衰减 光致衰减也称S-W效应。

在理想的条件下,入射到光伏电池表面的能量大于半导体材料禁带宽度,每一个光子产生一个电子流过外电路。 在一般状况下,辐射照度越大,电流越高,辐射照度从0上升到4000W/m2,短路电流一直成上升趋势,而且几乎成线形上升。 电流、电压与温度的关系： (DE18M参数为例) 短路电流（ISC）温度系数 ：0.04%/℃——太阳能电池的短路

PID（Potential Induced Degradation）也称为电势诱导衰减,是指太阳能电池在长期受到一定的外电压下发生功率衰减的现象。这种现象最高早是在2005年由美国公司SUNPOWER发现的,认为是一种极化效应；在2010年,NREL和Solon提出了PID风险的普遍性

光致衰减也称S-W效应。a-Si∶H薄膜经较长时间的强光照射或电流通过,在其内部将产生缺陷而使薄膜的性能下降,称为StaEbler-Wronski效应 (D.L.Staebler和C.R.Wronski最高早发现。个人认为 光伏组件 的衰减实际就是硅片性能的衰减,首先硅片在长期有氧坏境中会发生缓慢