EL全方位称为Electroluminescence,中文译为电致发光,亦叫做场致发光,其目的用于检测组件上电池片缺陷,以控制质量。EL测试基本原理是晶体硅太阳电池片外加正向偏置电压,电源向晶体硅电池注入大量非平衡载流子,电致发光依靠从扩散区注入的大量非

通过返工拆片后复测电池效率、电池分类后重新组装实验组件等方法,得出EL 测试中明暗差异大的混档问题产生的原因,主要有以下几方面。 2.1 电池效率差异导致的明暗差异. 对组件进行EL测试,测试结果如图1所示。 从图中可以看出,此组件为混档组件。 拆下混档组件的电池 ( 带焊带),从中选取2片明片和2片暗片测试其效率。 明片的效率分

光伏组件在实际生产中质量的主要问题是：电池片隐裂、蜗牛纹、EVA 脱层、硅胶不良导致封层及电池片交叉隐裂纹、光伏组件烧坏、组件接线盒起火、电池片助焊剂用量过多、虚焊和过焊、焊带偏移或焊接后翘曲破片、组件钢化玻璃爆破和接线盒导线断裂、产生

黑斑片形成的原因主要有人为因素、环境因素及机械不稳定等因素,最高有可能是在电池片制程过程中硅材料受到其他杂质,造成硅片的一些缺陷及污染。 从而在有缺陷的区域,少子扩散长度降低,发光强度弱。 短路黑片、非短路黑片. 电池片黑片有两种,全方位黑片称之为短路黑片,通常是由于焊接造成的短路或者混入了无功率电池片造成的。 另

通过返工拆片后复测电池效率、电池分类后重新组装实验组件等方法,得出EL 测试中明暗差异大的混档问题产生的原因,主要有以下几方面。 2.1 电池效率差异导致的明暗差异. 对组件进行EL 测试,测试结果如图1 所示。 从图中可以看出,此组件为混档组件。 拆下混档组件的电池 ( 带焊带),从中选取2 片明片和2 片暗片测试其效率。 明片的效率

从测试结果来看,碎片和黑片对组件的影响最高大,主要原因在于这两种缺陷对电池片造成了大面积破坏,致使电池片失效。 另外,EL图像只是提供一种分析的手段,只能反映问题的存在,并不能反映问题本身。

内部原因主要包括电池生产过程中的缺陷,如晶体杂质、表面沉淀等。 外部原因则更加复杂,如测试环境中的尘埃、指纹等。 这些黑点会改变电池的反射和吸收特性,导致其性能下降,从而影响测试结果。

我们通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能量色散X射线能谱(EDX)等手段研究不同类型的太阳电池黑片缺陷,微观结构分析给出了所有这些黑片缺陷产生的根本原因。

黑心片. 下列EL图片中可以看到大量中心一圈呈现黑色区域的电池片,黑色部分没有发出1150nm的红外光,无法被摄像头捕捉到,因此成黑色像。 此类现象是由于硅材料中硅的平衡少数载流子浓度偏低,从而降低了该区域的EL发光强度。 2. 黑斑片形成的原因主要有人为因素、环境因素及机械不稳定等因素,最高有可能是在电池片制程过程中硅材料