光伏：组件隐裂、热斑、PID效应是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素,2024-08-21 带大家了解一下电池片隐裂的原因、如何识别及预防方法。 一、光伏组件隐裂的形成及分类

文章来源：摩尔光伏. 总结晶体硅电池隐裂的研究进展,给出相关测试标准,探讨隐裂探测方法和相关标准中的载荷测试,研究分析在电池生产和电站运行过程中可能造成隐裂和隐裂扩展的原因,并给出隐裂解决方案。通过研究隐裂的特性和测试方法

EL（Electroluminescence,电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。 其检测原理如下。 电池片的核心部分是半导体PN结,在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。 如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合（

光伏组件 隐裂、热斑、PID效应是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素,2024-08-21 带大家了解一下电池片隐裂的原因、如何识别及预防方法。一、光伏组件隐裂的形成及分类. 隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺陷,通俗的讲,就是一些肉眼不可见的

EL (Electroluminescence,电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺陷检测设备,是简单有效的检测隐裂的方法 。 利用晶体硅的电致发光原理,通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺陷。 具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。 4. 形成"隐裂"的原因. 外力： 电池片在焊接、层压、装框或搬运、安

EL（Electroluminescence,电致发光）是简单有效的检测隐裂的方法。 其检测原理如下。 电池片的核心部分是半导体PN结,在没有其它激励（例如光照、电压、温度）的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。 如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合（